集成电路应用杂志

摘要：阐述以UCC28C44-Q1脉宽调制电源芯片为研究对象，提出了一种基于Arrhenius模型的可靠性筛选方法。该方法结合电性能测试、高温老化、X射线无损检测、超声波扫描等多种手段，对芯片进行综合筛选，旨在提升芯片的可靠性。通过设计可拆卸的子母板结构，降低了测试成本，并采用Arrhenius模型精确计算老化时间，从而更加真实地模拟芯片在极端工作条件下的老化过程。实验结果表明，该方法筛除了性能不佳的芯片，为脉宽调制电源芯片的可靠性筛选提供了科学依据。

关键词： 脉宽调制芯片;可靠性筛选;电参数测试;高温老化;Arrhenius模型;

基金资助： 国家重点研发计划课题（2019YFC1804704）；

DOI： 10.19339/j.issn.1674-2583.2025.09.025

专辑： 信息科技

专题： 无线电电子学

分类号： TN40