集成电路应用杂志

摘要：阐述融合CotNet50及FPN的检测网络，应对密集芯片定位难题，对MobileNetV2进行改进以实现7类缺陷分类，采用高斯滤波预处理，结合Focal Loss与GIoU Loss进行训练优化，检测精度与分类准确率达行业领先层级，当系统集成后可给出工艺优化的针对性建议。

关键词： 卷积神经网络;芯片缺陷检测;超声成像;特征融合;轻量化模型;

DOI： 10.19339/j.issn.1674-2583.2025.09.024

专辑： 信息科技

专题： 无线电电子学;计算机软件及计算机应用;自动化技术

分类号： TP391.41;TP183;TN40