集成电路应用杂志

摘要：阐述基于深度学习的自动识别技术的特点，依靠构建多型号IC焊点的数据集，利用改进AlexNet网络实施缺陷分类，结合亚像素边缘点迭代拟合和优化后的霍夫变换进行精准定位，该方式可有效辨识空焊、虚焊等相关缺陷，为AOI技术定制通用方案。

关键词： 集成电路;封装缺陷;IC焊点自动识别;

DOI： 10.19339/j.issn.1674-2583.2025.09.023

专辑： 信息科技

专题： 无线电电子学;计算机软件及计算机应用;自动化技术

分类号： TN405;TP18;TP391.41