基于联邦学习的分布式芯片制造数据分析
2025.11.26点击：
摘要：阐述芯片制造中的多工厂数据孤岛现象及隐私保护要求，为实现工艺参数相互协同优化，呈现基于联邦学习的分布式分析举措，凭借小波变换筛选出关键参数，经变分自编码器进行降维处理后，搭建深度Q网络模型，基于动态时间规整算法划分工艺的各个族群，借助差分隐私和同态加密来实现安全梯度聚合，基于三级窗口监测驱动策略实施自适应调整。
关键词： 联邦学习;芯片制造;工艺参数优化;隐私保护;
DOI： 10.19339/j.issn.1674-2583.2025.09.022
专辑： 信息科技
专题： 无线电电子学;自动化技术
分类号： TN405;TP181
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