集成电路应用杂志

摘要：阐述面向超大规模集成电路（VLSI）测试需求，提出基于电路分块技术的测试应用策略。围绕分块架构设计、测试数据压缩与跨块复用、故障预测与隔离等关键模块展开系统分析，构建完整的超大规模集成电路测试技术体系，以提升测试效率与检测覆盖率。

关键词： 并行处理技术;分布式计算技术;数据挖掘;

DOI： 10.19339/j.issn.1674-2583.2025.08.030

专辑： 信息科技

专题： 无线电电子学

分类号： TN47