集成电路应用杂志

摘要：阐述为提高屏蔽门故障预测的精度，采用箱型图法对屏蔽门历史故障数据进行异常值处理，并将处理好的故障间隔时间作为LSTM神经网络的输入变量，提出基于遗传算法优化LSTM的屏蔽门故障预测方法。

关键词： LSTM神经网络;遗传算法;故障预测;轨道交通;

DOI： 10.19339/j.issn.1674-2583.2025.08.035

专辑： 信息科技;工程科技Ⅱ辑

专题： 铁路运输;自动化技术

分类号： U231.94;TP18